物竞编号 | 1747 |
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分子式 | C |
分子量 | 12.01 |
标签 | 半导体材料 |
CAS号:7782-40-3
MDL号:MFCD00211867
EINECS号:231-953-2
RTECS号:HL4158550
BRN号:暂无
PubChem号:暂无
1. 性状:粉末
2. 密度(g/mL at 25°C):3.5
3. 相对蒸汽密度(g/mL,空气=1):未确定
4. 熔点(ºC):未确定
5. 沸点(ºC,常压):未确定
6. 沸点(ºC,0.1mmHg):未确定
7. 折射率(n20/D):未确定
8. 闪点(ºC):未确定
9. 比旋光度(º):未确定
10. 自燃点或引燃温度(ºC):未确定
11. 蒸气压(mmHg,20ºC):未确定
12. 饱和蒸气压(kPa,-164ºC):未确定
13. 燃烧热(KJ/mol):未确定
14. 临界温度(ºC):未确定
15. 临界压力(MPa):未确定
16. 油水(辛醇/水)分配系数的对数值:未确定
17. 爆炸上限(%,V/V):未确定
18. 爆炸下限(%,V/V):未确定
19. 溶解性:未确定
暂无
暂无
暂无
1、 疏水参数计算参考值(XlogP):-1.1
2、 氢键供体数量:0
3、 氢键受体数量:2
4、 可旋转化学键数量:0
5、 互变异构体数量:
6、 拓扑分子极性表面积(TPSA):34.1
7、 重原子数量:2
8、 表面电荷:0
9、 复杂度:0
10、 同位素原子数量:0
11、 确定原子立构中心数量:0
12、 不确定原子立构中心数量:0
13、 确定化学键立构中心数量:0
14、 不确定化学键立构中心数量:0
15、 共价键单元数量:1
金刚石晶体膜是一种人工合成的新型功能材料,它由金刚石微晶体构成,具有高硬度、低摩擦、高热导率(为铜的5倍)、低膨胀系数、良好抗热冲击性能、良好抗腐蚀性、极高电绝缘强度、宽波段高透过率和高电子折射率等多项复合性能。
本品无毒。
产品应贮存放在阴凉、通风、干燥、清洁、无化学药品腐蚀气氛的库房内。
制备金刚石薄膜常用的方法是气相沉积法,该方法可分以下3种类型。
(1)热化学气相沉积(TCVD)法 在高温下使含碳气相组分发生热分解即形成金刚石薄膜。这一方法在早期的制备过程中是比较成功的方法,目前采用很多的热丝法(EFCVD)以及对于沉积速率有着独特优越性的热化学焰法均属于此类。
(2)物理化学气相沉积法 用物理化学方法促进CVD过程,例如等离子增强CVD(PECVD或PACVD)、微波等离子体CVD(MWCVD)、射频等离子体CVD(RFPECVD)和直流等离子体CVD(DCPECVD)及电子增强CVD(EACVD)等。
(3)物理气相沉积法 即用物理方法(蒸发、溅射、离子束等)直接从碳源获取碳原子或碳离子,将含碳气体转变为气态活性碳原子,定向沉积在物体表面并沉积生成一层致密、均匀、光滑的碳碳原子键结构的固态晶体膜。这类工艺的关键技术是利用高能离子在基材表面的微区内形成75000℃和压强12×109Pa的热尖峰,其持续时间为10-21s,从而促进金刚石膜的形成。沉积工艺需在高能态、高真空条件下,严格控制电磁场能量,精确掌握含碳化合物的原材料配比和浓度,以及反应沉积速率。
用于金属、塑料、玻璃等材料表面生成金刚石膜。如半导体及半导体器件热沉电阻、电绝缘层。
危险运输编码:暂无
危险品标志:暂无
安全标识:暂无
危险标识:暂无
暂无
暂无